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Imec将钉扎光电二极管结构集成于薄膜传感器 提升自动驾驶汽车摄像头性能

据外媒报道,纳米电子与数字技术研究中心Imec宣布成功将钉扎光电二极管(pinned photodiode)结构集成于薄膜传感器上,可提升自动驾驶汽车摄像头性能。

由于增加了钉扎光栅(pinned-photogate)和转移栅极(transfer gate),现可利用薄膜成像器的强吸收特质(波长超过1µm),以较低的经济成本探测到除可见光之外的光线。

检测到红外线等非可见光具有多重优势,例如自动驾驶汽车摄像头通过检测非可见光可以帮助车辆“看”穿烟雾,也可应用于手机摄像头进行人脸识别。尽管硅基成像器(silicon-based imager)也可探测到可见光,但是其它半导体则可探测短波红外(short-wave infrared)等波长较长的光线。

即使采用III-V材料能够克服光线探测限制,但是由于其较高的生产成本,此类吸收器使用范围较小。而最近,采用例如量子点(quantum dot)等的薄膜吸收器则成为III-V材料的替代品。薄膜吸收器具有高吸收性且可集成于可见光传感器(CMOS)读出电路,然而这种红外传感器噪声性能较差,从而导致生成图像质量较低。

20世纪80年代,钉扎光电二极管(PPD)结构首次进入市场,用于硅基可见光传感器(silicon-CMOS)图像传感器。这一结构包含一个晶体管门电路(transistor gate)以及独特的光电传感器结构,电荷通过这种结构可在集成前完全耗尽(可进行复位操作,且不会产生电容噪声(KTC),也不会受到前一帧的影响)。

因此,由于噪声及功耗较低,钉扎光电二极管(PPD)目前在硅基成像传感器用户市场占绝对优势。对于硅基成像之外的领域,由于该结构混合两种不同的半导体系统,因此该结构目前还无法投入使用。

现在,imec成功将钉扎光电二极管(PPD)结构集成到基于薄膜图像传感器的读出电路中,这也是同类产品的首个创新研发。

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